CTEK har utsetts till Best Hardware Partner i en ny utmärkelse för tillförlitliga laddlösningar för elfordon. Priset baseras uteslutande på verklig driftdata från tusentals laddningssessioner på tretton marknader, inte på jurybedömningar, från laddplattformsföretaget Emabler.
Med en upptid på 98,6 procent ligger CTEK gott och väl över branschgenomsnittet, enligt Emablers driftdata. Den höga tillförlitligheten innebär färre driftstopp och högre intäkter för operatörerna, samtidigt som elbilsförare kan lita på att laddningen fungerar varje gång.
Driftsäkerhet och upptid är kärnan i vår verksamhet en sådan hög bevisad upptid bekräftar att våra produkter levererar det som krävs, särskilt inom desinationsladdning där tillförlitlighet är avgörande, säger Daniel Forsberg, marknadschef för elbilsladdning på CTEK.
Framgången bygger, enligt Emabler, på fyra nyckelfaktorer:
Robust konstruktion som tål dagligt slitage
Högkvalitativa komponenter
Tillförlitlig datakommunikation
Stabil programvara med kontinuerliga uppdateringar
– Tillförlitlig laddning är grunden för lönsamma och skalbara laddningsnätverk. CTEKs prestanda visar att pålitlig laddning är möjlig att uppnå i stor skala, säger Juha Stenberg, vd för Emabler.
Utmärkelsen baseras uteslutande på faktisk driftdata från Emablers plattform, vilket ger en objektiv bild av prestandan under verkliga förhållanden. Genom att analysera data från tusentals laddningssessioner på tretton olika marknader kan Emabler identifiera de mest tillförlitliga laddlösningarna på marknaden.
Emablers bedöming av CTEKs prestanda:
98,6 procents upptid, vilket bevisar tillförlitlighet i stor skala.
Sömlös kompabilitet mellan mjukvara och backend-system. Smidig integration för operatörer.
Beprövad driftsäkerhet över tusentals laddningspunkter som minimerar stilleståndstid och supportbehov.
Genomgående hög upptid över flera mjukvaruversioner som visar att stabilitet är en integrerad del i produktutvecklingen.
Kontinuerlig innovation inom både hårdvara och mjukvara som håller systemen uppdaterade mot framtida standarder.
Bild: Lee Rosario
